電容分壓器放電試驗(yàn)的抗干擾措施

電容分壓器放電試驗(yàn)的抗干擾措施:

       電容分壓器因其具備良好的承受電壓能力，而被廣泛的運(yùn)用在高壓耐壓試驗(yàn)測量設(shè)備中。電容分壓器是利用電容分壓原理來提供一個(gè)較低電壓的裝置，它是由瓷外殼內(nèi)裝有多個(gè)相串聯(lián)的電容器元件組成，其中設(shè)有中壓抽頭。電容分壓器運(yùn)行的可靠性在很大程度上取決于其絕緣的可靠性，局部放電試驗(yàn)是檢測電容分壓器絕緣可靠與否的重要手段。通過對局部放電產(chǎn)生危害的分析及局部放電檢測試驗(yàn)回路。針對局部放電檢測易受干擾的情況，提出幾種相應(yīng)的措施來抑制干擾。

一.電容分壓器局部放電試驗(yàn)中遇到的干擾問題：

       采用JDF-251型局部放電檢測儀對電容分壓器進(jìn)行局部放電試驗(yàn)，試驗(yàn)依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19749-2005要求電容分壓器局部放電水平不大于5pC。采用圖2中推薦的串聯(lián)法測試回路雖然有提高測試靈敏度的優(yōu)點(diǎn)。但對于電容分壓器的電容值達(dá)20000PF級在用JDF-251型局部放電檢測儀對電容分壓器局部放電檢測前首先要在不加電壓的情況下進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)，而校準(zhǔn)大電容量時(shí)必須將局部放電檢測儀的放大器增益檔位 調(diào)大，而這種操作同時(shí)也將外界的干擾給放大了，僅校準(zhǔn)后在不加電壓的情況下，局部放電檢測儀顯示背景已達(dá)5pC左右，在加電壓實(shí)際測試中測得局部放電量達(dá)20 pC。查找干擾原因，在試驗(yàn)室周圍有大型真空干燥設(shè)備，吊車等往往有幾十臺大功率電機(jī)在運(yùn)轉(zhuǎn)著，另外在試驗(yàn)室內(nèi)每個(gè)班次需試驗(yàn)十幾臺產(chǎn)品因受場地的影響產(chǎn)品擺放密度很大，而且有許多設(shè)備需要接地等。其它還有來自電網(wǎng)的固定干擾。在加電壓測量時(shí)試品的局部放電信號經(jīng)常會被干擾信號所掩蓋或無法識別。有時(shí)一臺產(chǎn)品需要試驗(yàn)好幾次進(jìn)行分析判定嚴(yán)重降低工作效率。

二.常用的試驗(yàn)方法：

       依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T7354-2003 局部放電測量標(biāo)準(zhǔn)中推薦了三種測試方法

     （一）標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)電路，又稱并聯(lián)法，適用于必須接地的試品。其缺點(diǎn)是高壓線對地雜散電容并聯(lián)在Cx上，會降低測試靈敏度。見圖1所示

     （二）串連法試驗(yàn)電路，其要求試品低壓端對地浮置。其優(yōu)點(diǎn)是變壓器入口

電容、高壓線對地雜散電容與耦合電容Ck并聯(lián)，有利于提高試驗(yàn)靈敏度見圖2所示。

       （三）平衡法試驗(yàn)電路：要求兩個(gè)試品相接近，至少電容量為同一數(shù)量級，其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，而且可做大電容試驗(yàn)，缺點(diǎn)是須要兩個(gè)相似的試品，且當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，需設(shè)法判別哪個(gè)試品放電。

三、排除干擾的技術(shù)措施及參數(shù)計(jì)算：

     （一）用平衡法抗干擾回路接線方式其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，而且可做大電容試驗(yàn)，但采用這種方法必須要求試驗(yàn)電源容量能夠滿足試驗(yàn)的要求。

     （二）接地干擾：回路接地方式不當(dāng)，例如兩點(diǎn)及以上接地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號會經(jīng)接地線耦合到試驗(yàn)回路產(chǎn)生干擾。這種干擾一般與試驗(yàn)電壓高低無關(guān)。試驗(yàn)回路采用可靠的單點(diǎn)接地，將試驗(yàn)回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)成單點(diǎn)接地結(jié)構(gòu)，接地線用30mm寬編織銅帶。主機(jī)接地，接地電阻要小，接地點(diǎn)要與一般試驗(yàn)室的地網(wǎng)及電力網(wǎng)中線分開。一點(diǎn)接地，可降低這種干擾。

     （三）懸浮電位干擾：鄰近試驗(yàn)回路的不接地金屬物產(chǎn)生的感應(yīng)懸浮電位放電，也是常見的一種干擾。其特點(diǎn)是隨試驗(yàn)電壓升高而增大，但其波形一般較易識別。消除的對策一是將待試產(chǎn)品盡量遠(yuǎn)離試品二是將待試產(chǎn)品接地。

     （四）電暈放電和各連接處接觸放電的干擾 ：電暈放電產(chǎn)生于試驗(yàn)回路處于高電位的導(dǎo)電部分，試品的法蘭、金屬蓋帽、試驗(yàn)變壓器、耦合電容器端部及高壓引線等部分,各連接點(diǎn)應(yīng)接觸良好，尤其是高壓端不要留下尖銳的接點(diǎn)，移動的高壓導(dǎo)線應(yīng)盡可能粗以防電暈用直徑大于200mm蛇皮管。例如接處接觸不良也會產(chǎn)生接觸放電干擾。這種干擾的特性是隨試驗(yàn)電壓的升高而增大。消除這種干擾是在高壓端部采用防暈措施（如防暈環(huán)等），高壓引線采用無暈的導(dǎo)電圓管，以及保證各連接部位的良好接觸等。

     （五）掌握試驗(yàn)電壓的零位。試品內(nèi)部局部放電的典型波形，通常是對稱的位于正弦波的正向上升段，對稱地疊加于橢圓基線上，而有些干擾（如高電位、地電位的電暈放電）信號是處于正弦波的峰值，認(rèn)定橢圓基線上試驗(yàn)電壓的零位。也有助于波形識別。