1、介紹:
串聯(lián)諧振裝置廣泛應(yīng)用于變壓器、電容器等大容量試驗(yàn)對(duì)象的現(xiàn)場(chǎng)交流耐壓試驗(yàn)。針對(duì)實(shí)際應(yīng)用中常見的問題,分析了串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)中影響因數(shù)質(zhì)量q的幾個(gè)因素。
2、測(cè)試對(duì)象的容量:
q值是評(píng)價(jià)串聯(lián)諧振電路最重要的參數(shù)。它與高壓電容的工頻f和電感L成正比,與阻抗R成反比,R表示整個(gè)電路的有功損耗。在實(shí)際的工頻串聯(lián)諧振測(cè)試電路中,根據(jù)公式wl=l/wc可以得出電容電抗決定電感電抗的結(jié)論。
然而,Q = wL / R。如果測(cè)試對(duì)象是GIS或由獨(dú)立元件組成的設(shè)備,則可以分段進(jìn)行耐壓測(cè)試,提高容抗,獲得更高的q值。采用變頻諧振裝置,試驗(yàn)對(duì)象的容量較大,諧振頻率較低。在大多數(shù)情況下,這對(duì)測(cè)試對(duì)象是有幫助的。
3、電路損耗的等效電阻:
無論何種工頻或變頻諧振裝置,若測(cè)試對(duì)象容量固定或高壓電抗器電感固定,當(dāng)電路達(dá)到串聯(lián)諧振時(shí),wl=l/wc,則有:式中:Uout為輸出電壓;Uexc是根據(jù)上述公式輸入的勵(lì)磁電壓,提高q值的方法是降低電路損耗電阻R。實(shí)際測(cè)試電路由串聯(lián)測(cè)試裝置、高壓引線和測(cè)試對(duì)象三部分組成。該電路主要由高壓電抗器和串聯(lián)裝置中的測(cè)試對(duì)象構(gòu)成。
3.1、串聯(lián)諧振裝置損耗
高壓電抗器主要決定串聯(lián)諧振器件的有源損耗。高壓電抗器電感大,電流小。因此,線圈的直流電阻可以達(dá)到ka。它與電抗器的鐵損耗構(gòu)成了電路損耗電阻r的重要組成部分。為了便于進(jìn)一步分析,我們引入了這一觀點(diǎn)——將整個(gè)電路的q值分解為電路的各個(gè)部分。設(shè)電路q值為Qs,串聯(lián)諧振器q值為QR,測(cè)試對(duì)象q值為Qi。
4、結(jié)論:
(1)串聯(lián)諧振試驗(yàn)中,影響q值的因素很多,包括被測(cè)對(duì)象的容量、電路損耗電阻、天氣等;
(2) Qs是一個(gè)復(fù)雜的參數(shù),一般由QL和QR決定,然而,在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)中,其他因素也會(huì)影響Qs,包括高壓電極和高壓引線。特別是高壓引線的電暈損耗控制比較困難。隨著電壓的升高,高壓部分電暈損耗逐漸增大,導(dǎo)致Qs值明顯降低。最后,輸出電壓不能飽和,不再增加;
(3)降低高壓部分電暈損失的有效方法是在高壓電極上增加電暈環(huán),提高高壓引線的初始電暈場(chǎng)強(qiáng)。實(shí)驗(yàn)室可采用長徑精加工鋁管,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)高壓引線應(yīng)采用長徑彈性引線。不建議使用裸銅線;
(4)當(dāng)輸出電壓接近標(biāo)稱值時(shí),應(yīng)注意電抗器的電壓分布。